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Contexte des J.S.T.

Cette année, les J.S.T. ont été organisées au centre de Nancy-Lorraine du 13 au 15 novembre 2013 avec un programme scientifique et technique portant entre -autre sur certains aspects qui n'avaient pas été encore abordés: La microscopie électronique à balayage et ses méthodes d'analyse couplées.

Les nouveaux enjeux de la microscopie appliquée à la biologie portent sur le développement de stratégies permettant de combiner différentes approches  pour répondre à une question biologique. Une des techniques couramment utilisée est la microscopie électronique. Qu'elle soit à balayage ou à transmission, elle peut être couplée à différents accessoires de préparation ou d'analyses.

Au cours de ces journées, des conférences ont donc portés sur la diversité et la complémentarité de ces approches, en abordant les techniques du froid et d'analyse minérale ainsi que les approches 3D.

Des ateliers ont été organisés où chacun a pu appréhender ces techniques ainsi que les toutes dernières nouveautés présentées par nos partenaires constructeurs.

Comme l'année dernière, une session poster a été proposée pour tous les participants, ainsi qu'un concours photos.

Partenariats :

La Formation Permanente Nationale de l'INRA, la CNOC ainsi que les départements INRA, le LABEX Arbre, la région Lorraine, le CPIE54, la CNOC, la ville de Nancy, le centre INRA de Nancy-Lorraine ainsi que nos partenaires industriels (ZEISS, JEOL, NIKON, OXFORD Instruments, FONDIS Bioritech, SYNERGIE4, DELTA Microscopies, Leica Microsystems, GATAN)) sont vivement remerciés pour leur soutien financier indispensable à la bonne réalisation des journées.

Comité local d'organisation

• Didier Le Thiec
• Christophe Rose
• Nathalie Ningre
• Franck Radnai
• Valérie Legué
• Joëlle Gérard
• Frédéric Guinet
• Julien Ruelle
• Nicolas Angeli
• Maryline Harroué
• Catherine Dreyer
• Corinne Weigerding
• Laurence Le Maout
• Rosine Gross
• Adeline Vuillaume
• Audrey Chardin

Présentations :

Ci-dessous, vous trouverez les présentations des intervenants sur la microscopie électronique à balayage et ses techniques d'analyse.